9 月 16 日


S 会 場  総合教育研究棟 3 階

S1 今まで我々は SEM で何を見てきたか.
低エネルギー電子による材料組織・表面観察の新展開
A New Trend in Materials and Surface Characterization using Low Energy Electrons
―What have we been obserring by SEM?―

 座 長 佐藤  馨 (13 : 00〜14 : 50)

S1・1 基調講演 How to Make an SEM Imaging in the Very Low Energy Range(25)

ISI, ASCR, Brno, Czech Republic I. Mullerova

S1・2 基調講演 Slow Electrons in Material Science Applications(25)

ISI ASCR, Brno, Czech Republic Ludek Frank

S1・3 基調講演 New Technologies to Characterize Nanostructured Bulk Materials(25)

Carl ZEISS NTS Heiner Jaksch

S1・4 低加速電子検出器を用いた Al 基複合材料の SEM 観察(15)

富山大院 ○松田健二 (院生) 諸林 勝 池野 進
チェコ科学アカデミー I. Mullerova L. Frank

― 15 分 休 憩 ―

 座 長 松田 健二 (15 : 05〜16 : 30)

S1・5 基調講演 二次電子像コントラストに及ぼす加速電圧と二次電子検出器選択の影響(25)

JFE スチール研 ○佐藤 馨 名越正泰 河野崇史

S1・6 低エネルギー SEM における反射電子像と 2 次電子(15)

エスアイアイ・ナノテクノロジー ○立花繁明 花田 剛

S1・7 SEM と TEM で見た Si 系半導体薄膜材料(15)

九大総理工 ○板倉 賢 産セ 桑野範之 工 友清芳二

S1・8 低加速電圧 EDS における元素マッピングの空間分解能(10)

JFE テクノリサーチ ○橋本 哲 櫻田委大
サーモエレクトロン 鈴木 実