【中国四国支部】

第42回材質制御研究会
走査型電子顕微鏡を用いた局所結晶方位解析法の応用

 1990年代から普及した走査型電子顕微鏡/後方散乱電子回折解析法(SEM/EBSD)は、現在では非常に重要な解析手法となりました。利用される分野もバルクの組織解析だけでなく多岐にわたるようになりました。この研究会では、SEM/EBSDの使用法に関する最新の話題を提供することを目的としています。多数のご参加をお待ちしています。
日時 2011年7月4日(月)
場所 島根大学松江キャンパス(島根県松江市西川津町1060)
会場 総合理工学部3号館2階多目的ホール
13:00-13:05趣旨説明森戸茂一(島根大学)
13:05-14:00SEM/EBSDを用いた組織の三次元解析森戸茂一(島根大学)
14:00-14:15休憩 
14:15-15:15銅薄膜に発生する成長粒子のEBSD解析
による微視的繰返し応力測定
小野勇一(鳥取大学)
15:15-15:30休憩 
15:30-16:30表面改質層の評価におけるEBSDの使用例村上浩二(岡山県工業 技術センター)
16:30-17:00質疑応答森戸茂一(島根大学)
参加申し込み 6月24日(金)必着。なるべくE‐mailで,氏名・所属・電話・E‐mailアドレスを明記して,下記へ申し込み下さい。
参加費 無料
申込・問合先 森戸茂一(島根大学総合理工学部)
TEL/FAX: 0852-32-6398(直通)
E-mail: mosh@riko.shimane-u.ac.jp
アクセス 島根大学HP http://www.shimane-u.ac.jp の
「大学紹介」→「キャンパへのアクセス[松江キャンパス]」をご覧ください。